Analisis Perbandingan Exposure Index (EI) pada Phantom Standar dan Phantom Replika dalam Uji Kesesuaian Pesawat Sinar-X

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

Text

Analisis Perbandingan Exposure Index (EI) pada Phantom Standar dan Phantom Replika dalam Uji Kesesuaian Pesawat Sinar-X

Hafizh Cahyo Murti - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

1634D2022 1634 D 2022 Perpustakaan FSM Undip Tersedia

Informasi Detail

Judul Seri: -
No. Panggil: 1634 D 2022
Penerbit: : DEPARTEMEN FISIKA FSM UNDIP., 2022
Deskripsi Fisik: -
Bahasa: Indonesia
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: NONE
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Hafizh Cahyo Murti / Dr. Eng. Eko Hidayanto,S.Si,M.Si./Zaenal Arifin,S.Si,M.Si.

Analisis Perbandingan Exposure Index (EI) pada Phantom Standar dan Phantom Replika dalam Uji Kesesuaian Pesawat Sinar-X

Ketersediaan

Informasi Detail

Versi lain/terkait

Lampiran Berkas

Komentar